名称:VGH-44环位置传感器
5号触点低温-40℃不导通问题技术归零报告
编 写:
校 对: 审 核:
审 定:会 签:
批 准:
同 意:
XXXXXXXX厂
20xx年4月27日
…… …… 余下全文
质量问题技术归零报告
成都亚光微波电路与系统研究所
二O O八年三月
一、问题概述
1. 产品型号名称:
2. 用户名称:
3. 问题产品批号:
4. 问题产品数量:
5. 反馈问题时间:
6. 用户质量问题描述:
二、问题定位
应编写以下内容
a)定位的过程
b)定位的依据
c)定位结果
d)问题原因
三、机理分析:
应编写以下内容
a)分析工作的步骤和方法
b)分析结果
四、问题复现:
应编写以下内容
a)为验证定位的准确性和机理分析的正确性,所进行的模拟试验情况
b)复现结果分析
c)无法或无需进行模拟试验的,应说明原因,并给出理论分析结果
五、采取的措施及验证:
应编写以下内容
a)纠正措施的确认情况
b)纠正措施计划的制定情况
c)纠正措施的实施有效情况
d)纠正措施的跟踪验证情况
e)纠正措施在产品上的落实情况
六、举一反三情况:
应编写以下内容
a)举一反三工作检查情况
b)经验教训
七、结论:
…… …… 余下全文
故障名称:
报告单位:
表CX8521-1(4-2)
注:栏目不够可以续页。
表CX8521-1(4-3)
说明:1. 此表为厂所级批准时使用,并上报院签署(2)(3);
2. 技术归零报告(有未归零问题)为阶段报告时签署(1);
3. 技术归零报告为院级批准时,院行政总指挥签署(3)。
表CX8521-1(4-4)
说明:1. 此表为院级批准时使用;
2. 技术归零报告(有未归零问题)为阶段报告时签署(2)。
…… …… 余下全文
质量问题技术归零报告
成都xx微波电路与系统研究所
二O O八年三月
一、问题概述
1. 产品型号名称:
2. 用户名称:
3. 问题产品批号:
4. 问题产品数量:
5. 反馈问题时间:
6. 用户质量问题描述:
二、问题定位
应编写以下内容
a)定位的过程
b)定位的依据
c)定位结果
d)问题原因
三、机理分析:
应编写以下内容
a)分析工作的步骤和方法
b)分析结果
四、问题复现:
应编写以下内容
a)为验证定位的准确性和机理分析的正确性,所进行的模拟试验情况
b)复现结果分析
c)无法或无需进行模拟试验的,应说明原因,并给出理论分析结果
五、采取的措施及验证:
应编写以下内容
a)纠正措施的确认情况
b)纠正措施计划的制定情况
c)纠正措施的实施有效情况
d)纠正措施的跟踪验证情况
e)纠正措施在产品上的落实情况
六、举一反三情况:
应编写以下内容
a)举一反三工作检查情况
b)经验教训
七、结论:
…… …… 余下全文