篇一 :逻辑门电路实验报告

HUBEI NORMAL UNIVERSITY

电工电子实验报告

实验  逻辑门电路

一、实验目的

1、学习分析基本的逻辑门电路的工作原理;

2、学习各种常用时序电路的功能;

3、了解一些常用的集成芯片;

4、学会用仿真来验证各种数字电路的功能和设计自己的电路。

二、实验环境

Multisim 8

三、实验内容

1、与门电路

   按图连接好电路,将开关分别掷向高低电平,组合出(0,0)(1,0)(0,1)(1,1)状态,通过电压表的示数,看到与门的输出状况,验证表中与门的功能:

结果:(0,0)

(0,1)

(1,0)

(1,1)

2、半加器

(1)输入/输出的真值表

半加器测试电路:

逻辑表达式:S= B+A=AB;=AB。

3、全加器

(1)输入输出的真值表

(2)逻辑表达式:S=i-1;Ci=AB+Ci-1(AB)

(3)全加器测试电路:

4、比较器

(1)真值表

(2)逻辑表达式:

Y1=A;Y2=B;Y3=AB。

(3)搭接电路图,如图:

1位二进制数比较器测试电路与结果:

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篇二 :门电路实验报告

实验报告

实验课题:门电路                 

实验目的:

掌握电路连接、排除故障和调试的方法。

实验仪器与器材:

1、数字电子技术实验系统

实验内容及步骤:

TTL 门电路逻辑功能验证

j按图1-1在实验系统(箱)上找到相应的门电路。并把输入端按实验箱的逻辑开关,输出端按发光二极管如图1-2所示TTL与门电路逻辑功能验证接线图。

k按状态表1-1中“与门”一栏输入A、B(0,1)信号,观察输出结果()看LED备用发光二极管,如灯亮为1,灯灭为0)填入表1-1中,并用万用表测量0、1电平值。

表1-1门电路逻辑功能表

           

l按同样的方法,验证“或门”74LS32……等的逻辑功能,并把结果填入表1-1中。

图1-2TTL门电路实验流程图

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篇三 :电路实验报告

捕获

数字电路

实 验 报 告

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姓       名:      田月皎       

学       号:   2011080432201   

学        院:      信息学院     

专        业:  计算机科学与技术 

指 导  教 师:       邹尔宁      

协助指导教师:                   

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篇四 :电子技术实验报告(逻辑门电路功能测试与设计)

实验报告(五)

课程名称:电子技术

实验项目:逻辑门电路功能测试与设计

专业班级:

  名:                       座号:09

实验地点:仿真室

实验时间:

指导老师:                      成绩:

一.实验目的:

1、掌握用multisim 软件进行门电路的逻辑功能测试与测试方法

2、掌握常用组合逻辑门电路的设计方法

3、 实验内容:

1.与非门逻辑功能测试

    2.用于非门设计一个二位输入的奇偶校验电路.

4、 实验步骤:

1.      与非门逻辑功能测试

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篇五 :集成门电路功能测试实验报告

集成门电路功能测试实验报告

一、    实验预习

1. 逻辑值与电压值的关系。

2. 常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法。

3. 硬件电路基础实验箱的结构、基本功能和使用方法。

二、    实验目的

测试集成门电路的功能

三、    实验器件

集成电路板、万用表

四、    实验原理

TTL与非门74LS00的逻辑符号及逻辑电路:

     

双列直插式集成与非门电路CT74LS00:

数字电路的测试:

常对组合数字电路进行静态和动态测试,静态测试是在输入端加固定的电平信号,测试输出壮态,验证输入输出的逻辑关系。动态测试是在输入端加周期性信号,测试输入输出波形,测量电路的频率响应。常对时序电路进行单拍和连续工作测试,验证其状态的转换是正确。本实验验证集成门电路输入输出的逻辑关系,实验在由硬件电路基础实验箱和相关的测试仪器组成的物理平台上进行。

硬件电路基础实验箱广泛地应用于以集成电路为主要器件的数字电路实验中,它的主要组成部分有:

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篇六 :深圳大学门电路逻辑功能及测试实验报告

深 圳 大 学 实 验 报 告

实验课程名称:    数字电路与逻辑设计     

      实验项目名称:    门电路逻辑功能及测试    

              

学院:    信息工程学院    专业:              

        

      报告人:       学号:     班级:            

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篇七 :数字逻辑实验报告1

《数字逻辑实验》报告 1

姓名 xxx  学号 xxxxxxxx  教师  xxx

时间 xxx  地点  xxx楼xxx机房   机位     

一.        与非门逻辑功能测试实验

1.        实验目的

1)        熟悉TTL中、小规模集成电路的外形、管脚和使用方法。

2)        了解和掌握基本逻辑门电路的输入与输出之间的逻辑关系及使用规则。

3)        测试与非门74LS00芯片的逻辑功能。

4)        根据测试结果完成74LS00的真值表1-4。

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篇八 :数字电路 集成逻辑门电路的基本应用实验报告

        

电子信息与机电工程学院  数字电路  课  实验报告

12电气(1)  班 姓名李俊杰 学号  201224122119  实验日期20144 21

 实验合作者:王圆圆        老师评定                       

               实验题目:集成逻辑门电路的基本应用

一、实验目的  

1、熟悉用标准与非门实现逻辑变换的方法。

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