地质填图教程总结02

5、重复样、监控样;在每个单幅的采样点位图中,设置重复样和监控样,按;二、1:1万土壤采样点位设计;1、基点基线准备;在地形图基础上,可以在图框文件里输入一个点,作为;2、软件设计采样点位;使用section软件,辅助工具2---土壤样自;勘探方位为南东120°,使用左双右单,也就是向1;3、采样点位设计图(修图);该步骤是对形成的设计图修图过程,首先将土壤

5、重复样、监控样

在每个单幅的采样点位图中,设置重复样和监控样,按从上到下,从左到右的原则,即a—c—b—d,查出每50个样品,其中1个是重复样,4个是监控样,45个是普通样品,导出excel表格之后排序,对其重复样和监控样设置,然后在单幅采样点位图中标出来.

二、1:1万土壤采样点位设计

1、基点基线准备

在地形图基础上,可以在图框文件里输入一个点,作为基点(待设计完毕可以删除,例如基点为200/100,点号为200,线号为100),图框外部边缘作为基线。

2、软件设计采样点位

使用section软件,辅助工具2---土壤样自动编号,然后点击那个点(基点),然后点击基线,会弹出下面框。

勘探方位为南东120°,使用左双右单,也就是向120°方向看,左面线号为双,右面为单号。横向间隔和纵向间隔不变(1:1万要求是线距100m,点距40m)。线号间隔为2,也就是左面线号为100-102-104-106….,右面为100-101-103….。本次定的基点为200/100,所以勘探线号就是100。基点为200/100,基点的点号为200,但在设计时候要设置成199(同理,基点的点号为280,但在设计时候

要设置成279),这样在基点位置才会显示200/100。所有设计完点击右键—重新显示工程,会弹出三个文件。

3、采样点位设计图(修图)

该步骤是对形成的设计图修图过程,首先将土壤样品线中的多余的小线头删除,可以将长线改图层,然后一起删去小线头。土壤样品点文件通过修改子图号,中国地调局系统库为1051,大小自己设置,适合1.5*1.5。样品标注文件中保留基线线号,别的线号删除,在图框附近的点线号进行标注点线号。

4、采样点坐标输出

对土壤采样点文件进行点位置转属性,只有该文件处于编辑状态,辅助工具1---导入导出功能---点位置转属性,然后点击辅助工具1---导入导出功能---导出属性数据(EXCEL)。

5、土壤编号的修改

对采样点土壤编号进行修改,比如基点是300/100,点号是300,线号是100,那么在修改土壤编号的时候,300/100就是正确的,之后是302/100、304/100…,之前是298/100、296/100…,所说的这些前提是100m320m的土壤采样网度。如果要是100m340m的网度,那么点号编号就是相差4,300/100是正确的,之后是304/100、308/100…,之前是296/100.、292/100…。以此类推,最终修改完所有土壤编号。

6、新土壤编号的投影

将新编号及其坐标再重新导入文件,对其进行修饰。

三、异常下限计算

1、基本参数

都采用Excle表格计算(原始数据参照表三)

平均值:=AVERAGE(C2:C36)

方差:STDEV(C2:C36)

异常下限:平均值+K值*方差

2、计算原理

计算过程中自动剔除大于平均值加3倍离差的高值和小于平均值减3倍离差的低值。

K值自选(1-3)。剔除次数的多少取决于没有大于和小于这些数据。 表一

表二

3、DGSInfo异常下限计算(数字地质调查信息综合平台) (1)基本定义:

背景值=平均值

一倍异常下限=背景值+2×均方差(标准差)

二倍异常下限=一倍×2

三倍异常下限=一倍×3

(2)EXCEL异常下限计算:

a.采用Excle表格计算(原始数据参照表三)

平均值:=AVERAGE(C2:C36)

均方差:STDEV(C2:C36)

(3)数字地质调查综合信息平台异常下限计算:

这样计算结果会比原始数据少,但是能真实反映研究区元素异常情况,实际计算后的值比a种方法较小。

处理数据:

利用Excel表格把所有化探数据先处理一下如图:

注:Ag代表分析结果,X为横坐标,Y为纵坐标。

 

第二篇:地质填图教程总结01

地球化学+地质填图常用教程总结01

一、1:5万土壤采样点位设计(水产沟幅为例)

1、标准图框生成

首先利用Mapgis—实用服务—投影变换—系列标准图框—生成1:5万图框

.

图框模式:高斯坐标实线公里网.

投影参数:起点纬度491000. 起点经度1210000. 网间间距1KM. 图框文件名:水产沟图框.

图框参数输入:图框内容:图幅名称:水产沟幅.

图框参数选择:输入并绘制接图表+绘制图幅比例尺+图框外图廓线.

2、图形校正

图片JPG转换成msi文件: Mapgis—图像处理—图像分析—文件—数据输入—添加文件(图片JPG)—转换—转化成msi文件.

校正到标准图框内:Mapgis—图像处理—图像分析—文件—打开影像—msi文件—镶嵌融合--打开参照文件—参照线文件(标准框). 镶嵌融合—添加控制点—(先点击带校正图片某点,然后点击对应的标准框点,最后按两次空格键,选择是,以此类推,尽量多的找几处控制点,通常不少于13个控制点,要求残差<1为准)—镶嵌融合—校正预览—透明度调节--回车--镶嵌融合—影像几何校正—几何校正--重命名保存文件.

3、图片数字化

对地形线、河流、公路、村庄等地形要素进行数字化过程. 同时,准备大格号、图例、网格线、采样位置、重复样和监控样分析表格等文件.

4、采样点位设计

四幅图框:据前述方法,生成5万四幅合体的图框(注意修饰)。将四幅图之间的界线用红线标出,根据阵列复制线,画出网格线,在网格线的交汇处定出大格号标注,然后建立采样点位文件,在上面点击采样点位置,辅助工具1—导入导出功能—点位置转属性. 辅助工具2,水系沉积物自动编号,0001大格号的左上角坐标为5488000,355000,一行上的大格号从0001—0004,点击确定,重新显示文件,出来小格号标注文件.

5、重复样、监控样

在每个单幅的采样点位图中,设置重复样和监控样,按从上到下,从左到右的原则,即a—c—b—d,查出每50个样品,其中1个是重复样,4个是监控样,45个是普通样品,导出excel表格之后排序,对其重复样和监控样设置,然后在单幅采样点位图中标出来.

二、1:1万土壤采样点位设计

1、基点基线准备

在地形图基础上,可以在图框文件里输入一个点,作为基点(待设计完毕可以删除,例如基点为200/100,点号为200,线号为100),图框外部边缘作为基线。

2、软件设计采样点位

使用section软件,辅助工具2---土壤样自动编号,然后点击那个点(基点),然后点击基线,会弹出下面框。

勘探方位为南东120°,使用左双右单,也就是向120°方向看,左面线号为双,右面为单号。横向间隔和纵向间隔不变(1:1万要求是线距100m,点距40m)。线号间隔为2,也就是左面线号为100-102-104-106….,右面为100-101-103….。本次定的基点为200/100,所以勘探线号就是100。基点为200/100,基点的点号为200,但在设计时候要设置成199(同理,基点的点号为280,但在设计时候

要设置成279),这样在基点位置才会显示200/100。所有设计完点击右键—重新显示工程,会弹出三个文件。

3、采样点位设计图(修图)

该步骤是对形成的设计图修图过程,首先将土壤样品线中的多余的小线头删除,可以将长线改图层,然后一起删去小线头。土壤样品点文件通过修改子图号,中国地调局系统库为1051,大小自己设置,适合1.5*1.5。样品标注文件中保留基线线号,别的线号删除,在图框附近的点线号进行标注点线号。

4、采样点坐标输出

对土壤采样点文件进行点位置转属性,只有该文件处于编辑状态,辅助工具1---导入导出功能---点位置转属性,然后点击辅助工具1---导入导出功能---导出属性数据(EXCEL)。

5、土壤编号的修改

对采样点土壤编号进行修改,比如基点是300/100,点号是300,线号是100,那么在修改土壤编号的时候,300/100就是正确的,之后是302/100、304/100…,之前是298/100、296/100…,所说的这些前提是100m320m的土壤采样网度。如果要是100m340m的网度,那么点号编号就是相差4,300/100是正确的,之后是304/100、308/100…,之前是296/100.、292/100…。以此类推,最终修改完所有土壤编号。

6、新土壤编号的投影

将新编号及其坐标再重新导入文件,对其进行修饰。

三、异常下限计算

1、基本参数

都采用Excle表格计算(原始数据参照表三)

平均值:=AVERAGE(C2:C36)

方差:STDEV(C2:C36)

异常下限:平均值+K值*方差

2、计算原理

计算过程中自动剔除大于平均值加3倍离差的高值和小于平均值减3倍离差的低值。 K值自选(1-3)。剔除次数的多少取决于没有大于和小于这些数据。

表一

表二

3、DGSInfo异常下限计算(数字地质调查信息综合平台)

定义:

背景值=平均值

一倍异常下限=背景值+2×均方差(标准差)

二倍异常下限=一倍×2

三倍异常下限=一倍×3

(2)EXCEL异常下限计算:

a.采用Excle表格计算(原始数据参照表三)

平均值:=AVERAGE(C2:C36)

均方差:STDEV(C2:C36)

1)基本 (

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