深 圳 大 学 实 验 报 告
课程名称: 大学物理实验(2)
实验名称: 学院: 机电与控制工程学院
专业: 机械制造及其自动化 班级: 机械02班
组号: 20 指导教师:马永健 龚志瑞
报告人:2013110357
实验地点 科技楼 901
实验时间: 2014 年 10 月 13 日 星期 一
实验报告提交时间:
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实验报告:通过霍尔效应测量磁场
06级数学系 蔡园青 20##年10月31日 PB06001093
实验目的:
通过用霍尔元件测量磁场,判断霍尔元件载流子类型,计算载流子的浓度和迁移速度,以及了解霍尔效应测试中的各种副效应及消除方法。
实验仪器:
QS-H霍尔效应组合仪,测试仪
实验原理:
1、通过霍尔效应测量磁场
霍尔效应装置如图2.3.1-1和图2.3.1-2所示。将一个半导体薄片放在垂直于它的磁场中(B的方向沿z轴方向),当沿y方向的电极A、A’上施加电流I时,薄片内定向移动的载流子(设平均速率为u)受到洛伦兹力FB的作用,
FB = q u B (1)
无论载流子是负电荷还是正电荷,FB的方向均沿着x方向,在磁力的作用下,载流子发生偏移,产生电荷积累,从而在薄片B、B’两侧产生一个电位差VBB’,形成一个电场E。电场使载流子又受到一个与FB方向相反的电场力FE,
FE=q E = q VBB’ / b (2)
其中b为薄片宽度,FE随着电荷累积而增大,当达到稳定状态时FE=FB,即
q uB = q VBB’ / b (3)
这时在B、B’两侧建立的电场称为霍尔电场,相应的电压称为霍尔电压,电极B、B’称为霍尔电极。
另一方面,射载流子浓度为n,薄片厚度为d,则电流强度I与u的关系为:
(4)
由(3)和(4)可得到
(5)
令,则
(6)
R称为霍尔系数,它体现了材料的霍尔效应大小。根据霍尔效应制作的元件称为霍尔元件。
在应用中,(6)常以如下形式出现:
(7)
式中称为霍尔元件灵敏度,I称为控制电流。
由式(7)可见,若I、KH已知,只要测出霍尔电压VBB’,即可算出磁场B的大小;并且若知载流子类型(n型半导体多数载流子为电子,P型半导体多数载流子为空穴),则由VBB’的正负可测出磁场方向,反之,若已知磁场方向,则可判断载流子类型。
由于霍尔效应建立所需时间很短(10-12~10-14s),因此霍尔元件使用交流电或者直流电都可。指示交流电时,得到的霍尔电压也是交变的,(7)中的I和VBB’应理解为有效值。
2、霍尔效应实验中的副效应
在实际应用中,伴随霍尔效应经常存在其他效应。例如实际中载流子迁移速率u服从统计分布规律,速度小的载流子受到的洛伦兹力小于霍尔电场作用力,向霍尔电场作用力方向偏转,速度大的载流子受到磁场作用力大于霍尔电场作用力,向洛伦兹力方向偏转。这样使得一侧告诉载流子较多,相当于温度较高,而另一侧低速载流子较多,相当于温度较低。这种横向温差就是温差电动势VE,这种现象称为爱延豪森效应。这种效应建立需要一定时间,如果采用直流电测量时会因此而给霍尔电压测量带来误差,如果采用交流电,则由于交流变化快使得爱延豪森效应来不及建立,可以减小测量误差。
此外,在使用霍尔元件时还存在不等位电动势引起的误差,这是因为霍尔电极B、B’不可能绝对对称焊在霍尔片两侧产生的。由于目前生产工艺水平较高,不等位电动势很小,故一般可以忽略,也可以用一个电位器加以平衡(图2.3.1-1中电位器R1)。
我们可以通过改变IS和磁场B的方向消除大多数付效应。具体说在规定电流和磁场正反方向后,分别测量下列四组不同方向的IS和B组合的VBB’,即
然后得到霍尔电压平均值,这样虽然不能消除所有的付效应,但其引入的误差不大,可以忽略不计。
电导率测量方法如下图所示。设B’C间距离为L,样品横截面积为S=bd,流经样品电流为IS,在零磁场下,测得B’C间电压为VB’C,根据欧姆定律可以求出材料的电导率。v
实验内容:
1、霍尔效应组合仪包括电磁铁,霍尔样品和样品架,换向开关和接线柱,如下图所示。
2、测试仪由励磁恒流源IM,样品工作恒流源IS,数字电流表,数字毫伏表等组成,仪器面板如下图:
将测试仪上IM输出,IS输出和VH输入三对接线柱分别与实验台上对应接线柱连接。打开测试仪电源开关,预热数分钟后开始实验。
(1)保持IM不变,取IM=0.45A,IS取1.00,1.50……,4.50mA,测绘VH-IS曲线,计算。
(2) 保持IS不变,取IS=4.50mA,IM取0.100,0.150……,0.450mA,测绘VH-IM曲线。
(3) 在零磁场下,取IS=0.1mA,测VB’C(即Vd)。
(4)求?n ,u,s?。
注意事项
1、测试仪开机、关机前将IS, IM旋钮逆时针转到底,防止输出电流过大。
2、IS, IM接线不可颠倒,以防烧坏样品。
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