超声检测技术

第一章 超声检测通用技术I级考试大纲

1. 无损检测概论（见第一篇第一章） 2. 超声检测的物理基础

2.1 振动与波动

2.1.1 振动的一般概念（A） 2.1.2 机械波的产生与传播（A） 2.1.3 波长、频率和波速（A） 2.1.4 次声波、声波和超声波（B） 2.1.5 波的类型 a. 纵波、横波（A） b. 表面波（B）

c. 平面波、柱面波、球面波（C） 2.2 超声波 2.2.1 超声波声速

a. 固体介质中的声速（A） b. 液体介质、气体介质的声速（A） c. 影响声速的因素（C） d. 声速的测量（B）

2.2.2 超声场的特征值（概念） a. 声压（A） b. 声强（A） c. 声阻抗（A） d. 分贝（A）

2.2.3 波的迭加、干涉、衍射和惠更斯原理（A）2.3 超声波的特性

2.3.1 超声波垂直入射（不涉及反射率和透射率的计算）

a. 单一平面的反射与透射（A） b. 薄层介面的反射与透射（B） 2.3.2 超声波倾斜入射

a. 波型转换与反射、折射及第一、第二、第三临界角（A） b. 声压反射率（B） c. 端角反射（B） 2.4 超声波的衰减 a. 扩散衰减（B）

b. 散射衰减（B） c. 吸收衰减（B）

2.5 声场与规则反射体的回波声压 2.5.1 园盘波源辐射的纵波声场 a. 波源轴线上的声压分布（C） b. 波指向性和半扩散角（A） c. 波未扩散区与扩散区（B） d. 近场区在两种介质中的应用（B） 2.5.2 规则反射体的回波声压 a. 平底孔回波声压（B） b. 大平底面回波声压（B） c. 长横孔回波声压（B）

2.5.3 各类规则反射体回波声压之间的关系a. 平底孔与大平底（B） 3. 超声仪器、探头和试块 3.1 超声波仪器 3.1.1 超声波检测仪概述 a. 仪器的作用（A） b. 仪器的分类（B）

3.1.2 A型脉冲反射式仪器的一般工作原理 a. 仪器电路的方框图（B） b. 仪器主要组成部分的作用（B） c. 仪器主要功能键的作用及其调整（A） d. 仪器的维护（A） 3.1.3 数字智能检测仪

a. 数字智能检测仪的特点（B） b. 数字智能检测仪的发展（C） 3.2 超声波探头 3.2.1 晶片 a. 压电效应（A）

b. 压电材料的主要性能参数（C） 3.2.2 探头的种类和结构 a. 直探头（A） b. 斜探头（B） c. 双晶探头（C）

d. 聚集探头（C） 3.3 试块 3.3.1 试块的作用

a. 确定检测系统的灵敏度（B） b. 测试仪器和探头的性能（B） c. 评判缺陷在工件中的位置（B） d. 评判缺陷的当量大小（B） 3.3.2 试块的分类 a. 标准试块（A） b. 对比试块

3.3.3 试块的要求和维护

a. 标准试块与对比试块的要求（A） b. 试块使用与维护（A） 3.4 仪器和探头的性能及其测试 3.4.1 仪器的性能及其测试 a. 垂直线性及其测试（A） b. 水平线性及其测试（A） c. 动态范围及其测试（B） d. 衰减器精度及其测试（B） 3.4.2 探头的性能及其测试 a. 斜探头的入射点（A） b. 斜探头的K值和折射角（A） c. 探头主声束偏离与双峰（B） 3.4.3 仪器和探头的综合性能及其测试a. 灵敏度（A）

b. 盲区与始脉冲宽度（B） c. 分辨率（B） d. 信噪比（B） 4. 超声检测方法 4.1 超声检测方法概述 4.1.1 按原理分类 a. 脉冲反射法（A） b. 穿透法（B） 4.1.2 按波形分类 a. 纵波法（A） b. 横波法（A） c. 表面波法（C） 4.1.3 按探头数目分类] a. 单探头法（A） b. 双探头法（B）

c. 多探头法（C） 4.1.4 按探头接触方式分类 a. 直接接触法（A） b. 液浸法（B） 4.1.5 按显示方式分类 a. A型显示（A） b. B型显示（B） c. C型显示（C） 4.2 仪器与探头的选择 4.2.1 仪器的选择（B） 4.2.2 探头的选择 a. 探头形式（C） b. 探头频率（B） c. 晶片尺寸（B） d. 斜探头K值（B） 4.3 耦合与补偿 4.3.1 耦合剂

a. 常用耦合剂的要求（A） b. 影响声耦合的主要因素（B） 4.3.2 表面耦合损耗的测定和补偿 a. 耦合损耗的测定（C） b. 补偿方法（B） 4.4 超声仪的调节 4.4.1 扫描速度的调节 a. 纵波扫描速度的调节（A） b. 横波扫描速度的调节（A） 4.4.2 灵敏度的调节 a. 试块调整法（A） b. 工件底波调整法（A） 4.5 缺陷位置大小的测定 4.5.1 缺陷位置的测定 a. 直探头检测（A） b. 横波平面检测（B） c. 横波曲面检测（C） 4.5.2 缺陷大小的测定 a. 当量法（B） b. 测长法（B） c. 底波高度法（B）

4.6 影响缺陷定位、定量的主要因素 4.6.1影响缺陷定位的主要因素

a. 仪器的影响（B） b. 探头的影响（B）

c. 工件几何形状和尺寸的影响（B） d. 操作人员的影响（B）

e. 缺陷形状、取向和性质的影响（B） 4.6.2 影响缺陷定量的主要因素 a. 仪器及探头性能的因素（B） b. 耦合与衰减的影响（B） c. 工件几何形状和尺寸的影响（B） d. 缺陷的影响（B） e. 操作人员的影响（B） 4.7非缺陷回波的判别（B） 5.超声检测技术应用及标准 5.1 检测条件准备 5.1.1 文件

a. 工艺卡的作用和主要内容 （A） b. 检验规程的检测过程 （A） 5.1.2 检测设备

a. 检测设备及系统的构成 （C） b. 系统校准及检测中的校验（B） 5.1.3 被检件

a. 检测区域及表面备制 （C） b. 检测区域表面的目视检验 （B） 5.2 超声检测技术应用 5.2.1 焊缝超声波检测 a. 焊缝中的常见缺陷（A） b. 探测条件的选择（C） c. 扫描速度的调节（B） d. 距离—波幅曲线的绘制（A） e. 扫查方式（C）

f. 缺陷位置、大小的测定（A） 5.2.2 锻件检测

a. 锻件中的常见缺陷（B） b. 检测方法概述（C）

c. 探测条件的选择（C） d. 扫描速度和灵敏度调节（B） e. 缺陷大小和位置的测定（B） 5.2.3 铸件检测

a. 铸件中的常见缺陷（B） b. 铸件检测的特点（C） c. 探测条件的选择（C）

d. 距离—波幅曲线的绘制和灵敏度的调节（C） e. 缺陷的判别与测定（C） 5.2.4 板材检测 a. 板材常见缺陷（A） b. 检测方法（B）

c. 探头与扫查方式选择（C） d. 探测范围和灵敏度调整（B） e. 缺陷的判别与测定（A） 5.2.5 管材检测

a. 管材中的常见缺陷（B） b. 检测方法（C）

c. 探测参数和探测条件的选择（C） d. 灵敏度调整（C）

e. 缺陷大小和位置的测定（C） 5.3 JB4730标准：总则和超声检测 5.3.1 一般要求 a. 检测范围（A） b. 检测人员（C） c. 检测仪器探头性能（B） d. 检测一般方法（C） e. 校准（B） f. 缺陷记录（A） 5.3.2 超声检测 a. 板材检测（A） b. 焊缝检测（A） c. 厚度测量（C）

第二章 超声检测通用技术Ⅱ级考试大纲

1. 无损检测概论（见第一篇第二章） 2. 超声检测的物理基础 2.1 振动与波动

2.1.1 振动的一般概念（A） 2.1.2谐振动（A） 2.1.3 阻尼振动（C）

2.1.4 机械波的产生与传播（A） 2.1.5 波长、频率和波速（A） 2.1.6 次声波、声波和超声波（A） 2.1.7 超声波的应用（A） 2.1.8 波的类型

a. 纵波、横波、表面波（A） b. 板波（C）

c. 平面波、柱面波、球面波（B） d. 连续波、脉冲波（B） 2.2 超声波 2.2.1 超声波声速

a. 固体介质中的声速（A） b. 液体介质、气体介质的声速（A） c. 板波声速（C） d. 影响声速的因素（B） e. 声速的测量（A） 2.2.2 超声场的特征值 a. 声压（A） b. 声强（A） c. 声阻抗（A） d. 分贝及其应用

◇ 分贝声压表达式和声强表达式（B） ◇ 常用分贝值和声压比值的关系（B） ◇ 分贝应用（B）

2.2.3 波的迭加、干涉、衍射和惠更斯原理（B）2.3 超声波的特性 2.3.1 超声波垂直入射

a. 单一平面的反射与透射（A） b. 薄层介面的反射与透射（A） c. 声压往复透射率（A） 2.3.2 超声波倾斜入射

a. 波型转换与反射、折射及第一、第二、第三

临界角（A） b. 声压反射率（A） c. 声压往复透射率（A） d. 端角反射（A） 2.4 超声波的聚焦与发散 2.4.1 声压距离公式

a. 球面波声压距离公式（B） b. 柱面波声压距离公式（B） 2.4.2 平面波在曲界面上的反射与折射 a. 平面波在曲界面上的反射（B） b. 平面波在曲界面上的折射（B） 2.4.3 球面波在曲界面上的反射与折射 a. 球面波在曲界面上的反射（B） b. 球面波在曲界面上的折射（B） 2.4.4 球面波在平界面上的反射与折射 a. 球面波在单一平界面上的反射（B） b. 球面波在双界面上的反射（B） c. 球面波在单一平界面上的折射（B） 2.5 超声波的衰减 2.5.1 衰减的原因 a. 扩散衰减（A） b. 散射衰减（A） c. 吸收衰减（A） 2.5.2 衰减方程与衰减系数 a. 衰减方程（B） b. 衰减系数（B） c. 衰减系数的测定（B）

2.6 超声波发射声场与规则反射体的回波声2.6.1 纵波发射声场 a. 园盘波源辐射的纵波声场 ◇ 波源轴线上的声压分布（A） ◇ 波指向性和半扩散角（A） ◇ 波未扩散区与扩散区（A） ◇ 近场区在两种介质中的应用（B） b. 矩形波源辐射的纵波声场 ◇ 波源轴线上的声压分布（B） ◇ 波指向性和半扩散角（B） ◇ 波未扩散区与扩散区（B）

2.6.2 聚焦声源发射场

a. 液浸聚焦和接触式聚焦（B） b. 聚焦几何尺寸计算（B） 2.6.3 规则反射体的回波声压 a. 平底孔回波声压（A） b. 大平底面回波声压（A） c. 长横孔回波声压（B） d. 短横孔回波声压（B） e. 球孔回波声压（B） f. 圆柱曲底面回波声压（B）

2.6.4 各类规则反射体回波声压之间的关系b. 平底孔与大平底（A） c. 短横孔与大平底（B） d. 长横孔与大平底（B） 3. 超声仪器、探头和试块 3.1 超声波仪器 3.1.1 超声波检测仪概述 a. 仪器的作用（A） b. 仪器的分类（A）

3.1.2 A型脉冲反射式仪器的一般工作原理 a. 仪器电路的方框图（A） b. 仪器主要组成部分的作用（B） c. 仪器主要功能键的作用及其调整（A） d. 仪器的维护（B） 3.1.3 数字智能检测仪

a. 数字智能检测仪的特点（A） b. 数字智能检测仪的发展（B） 3.1.4 超声波测厚仪（C） 3.2 超声波探头 3.2.1 晶片 a. 压电效应（A）

b. 压电材料的主要性能参数（B） 3.2.2 探头的种类和结构 a. 直探头（A） b. 斜探头（A） c. 双晶探头（A） d. 聚集探头（B） 3.3 试块 3.3.1 试块的作用

a. 确定检测系统的灵敏度（A）

b. 测试仪器和探头的性能（A） c. 评判缺陷在工件中的位置（A） d. 评判缺陷的当量大小（A） 3.3.2 试块的分类 a. 标准试块（A） b. 对比试块（A） 3.3.3 试块的要求和维护

a. 标准试块与对比试块的要求（A） b. 试块使用与维护（A） 3.3.4 国内外试块的了解（B） 3.4 仪器和探头的性能及其测试 3.4.1 仪器的性能及其测试 a. 垂直线性及其测试（A） b. 水平线性及其测试（A） c. 动态范围及其测试（A） d. 衰减器精度及其测试（A） 3.4.2 探头的性能及其测试 a. 斜探头的入射点（A） b. 斜探头的K值和折射角（A） c. 探头主声束偏离与双峰（A） 3.4.3 仪器和探头的综合性能及其测试a. 灵敏度（A）

b. 盲区与始脉冲宽度（A） c. 分辨率（A） d. 信噪比（A） 4.超声检测方法 4.1 超声检测方法概述 4.1.1 按原理分类 a. 脉冲反射法（A） b. 穿透法（A） c. 共振法（C） 4.1.2 按波形分类 a. 纵波法（A） b. 横波法（A） c. 表面波法（B） d. 板波法（C） 4.1.3 按探头数目分类] a. 单探头法（A） b. 双探头法（A） c. 多探头法（C）

4.1.4 按探头接触方式分类 a. 直接接触法（A） b. 液浸法（A） 4.1.5 按显示方式分类 a. A型显示（A） b. B型显示（B） c. C型显示（C） d. D型显示（C） 4.2 仪器与探头的选择 4.2.1 仪器的选择（A） 4.2.2 探头的选择 a. 探头形式（A） b. 探头频率（A） c. 晶片尺寸（A） d. 斜探头K值（A） 4.3 耦合与补偿 4.3.1 耦合剂

a. 常用耦合剂的要求（A） b. 影响声耦合的主要因素（A） 4.3.2 表面耦合损耗的测定和补偿 a. 耦合损耗的测定（B） b. 补偿方法（A） 4.4 超声仪的调节 4.4.1 扫描速度的调节 a. 纵波扫描速度的调节（A） b. 横波扫描速度的调节（A） 4.4.2 灵敏度的调节 a. 试块调整法（A） b. 工件底波调整法（A） 4.5 缺陷位置大小的测定 4.5.1 缺陷位置的测定 a. 直探头检测（A） b. 表面波检测（B） c. 横波平面检测（A） d. 横波曲面检测（B） 4.5.2 缺陷大小的测定 a. 当量法（A） b. 测长法（A） c. 底波高度法（A）

4.6 影响缺陷定位、定量的主要因素

4.6.1 影响缺陷定位的主要因素 a. 仪器的影响（A） b. 探头的影响（A）

c. 工件几何形状和尺寸的影响（A） d. 操作人员的影响（A）

e. 缺陷形状、取向和性质的影响（A） 4.6.2 影响缺陷定量的主要因素 a. 仪器及探头性能的因素（A） b. 耦合与衰减的影响（A） c. 工件几何形状和尺寸的影响（A） d. 缺陷的影响（A） e. 操作人员的影响（A） 4.7缺陷的性质分析（C） 4.8非缺陷回波的判别（B） 5. 超声检测技术应用及标准 5.1 检测条件准备 5.1.1 文件

a. 工艺卡编制要点（A） b. 检验规程与标准应用（B） 5.1.2 检测设备

a. 检测设备及系统的构成（B） b. 系统校准及检测中的校验（A） 5.1.3 被检件

a. 检测区域及表面备制（A） b. 检测区域表面的目视检验（B） 5.2超声检测技术应用 5.2.1 焊缝超声波检测 a. 焊缝中的常见缺陷（A） b. 探测条件的选择（B） c. 扫描速度的调节（A） d. 距离—波幅曲线的绘制（A） e. 扫查方式（B）

f. 缺陷位置、大小的测定（A） 5.2.2 锻件检测

a. 锻件中的常见缺陷（A） b. 检测方法概述（B） c. 探测条件的选择（B） d. 扫描速度和灵敏度调节（A） e. 缺陷大小和位置的测定（A） 5.2.3 铸件检测

a. 铸件中的常见缺陷（A） b. 铸件检测的特点（B） c. 探测条件的选择（C）

d. 距离—波幅曲线的绘制和灵敏度的调节（A） d. 灵敏度调整（A）

e. 缺陷大小和位置的测定（A） 5.3 JB4730标准：总则和超声检测 5.3.1 一般要求 e. 缺陷的判别与测定（A） 5.2.4 板材检测 a. 板材常见缺陷（A） b. 检测方法（B）

c. 探头与扫查方式选择（B） d. 探测范围和灵敏度调整（A） e. 缺陷的判别与测定（A） 5.2.5 管材检测

a. 管材中的常见缺陷（A） b. 检测方法（B）

c. 探测参数和探测条件的选择（B）

a. 检测范围（A） b. 检测人员（B） c. 检测仪器探头性能（B） d. 检测一般方法（B） e. 校准（A）

f. 缺陷记录、评定及报告（A） 5.3.2 超声检测 a. 锻件检测（A） b. 焊缝检测（A） c. 厚度测量（A）

第三章 超声检测通用技术Ⅲ级考试大纲

1. 无损检测概论（见第一篇第三章） 2. 超声检测的物理基础

2.1 振动与波动

2.1.1 振动的一般概念（A） 2.1.2谐振动（A） 2.1.3 阻尼振动（B）

2.1.4 机械波的产生与传播（A） 2.1.5 波长、频率和波速（A） 2.1.6 次声波、声波和超声波（A） 2.1.7 超声波的应用（A） 2.1.8 波的类型

a. 纵波、横波、表面波（A） b. 板波、爬波（B）

c. 平面波、柱面波、球面波（B） d. 连续波、脉冲波（B） 2.2 超声波 2.2.1 超声波声速

a. 固体介质中的声速（A） b. 液体介质、气体介质的声速（A） c. 板波声速（B） d. 影响声速的因素（A） e. 声速的测量（A） 2.2.2 超声场的特征值 a. 声压（A） b. 声强（A） c. 声阻抗（A） d. 分贝及其应用

◇ 分贝声压表达式和声强表达式（A） ◇ 常用分贝值和声压比值的关系（A） ◇ 分贝应用（A）

2.2.3 波的迭加、干涉、衍射和惠更斯原理（A）2.3 超声波的特性 2.3.1 超声波垂直入射

a. 单一平面的反射与透射（A） b. 薄层介面的反射与透射（A） c. 声压往复透射率（A） 2.3.2 超声波倾斜入射

a. 波型转换与反射、折射及第一、第二、第三

临界角（A） b. 声压反射率（A） c. 声压往复透射率（A） d. 端角反射（A） 2.4 超声波的聚焦与发散 2.4.1 声压距离公式

a. 球面波声压距离公式（A） b. 柱面波声压距离公式（A） 2.4.2 平面波在曲界面上的反射与折射 a. 平面波在曲界面上的反射（B） b. 平面波在曲界面上的折射（B） 2.4.3 球面波在曲界面上的反射与折射 a. 球面波在曲界面上的反射（B） b. 球面波在曲界面上的折射（B） 2.4.4球面波在平界面上的反射与折射 a. 球面波在单一平界面上的反射（B） b. 球面波在双平界面上的反射（B） c. 球面波在平界面上的折射（B） 2.5 超声波的衰减 2.5.1 衰减的原因 a. 扩散衰减（A） b. 散射衰减（A） c. 吸收衰减（A） 2.5.2 衰减方程与衰减系数 a. 衰减方程（A） b. 衰减系数（A） c. 衰减系数的测定（A）

2.6 超声波发射声场与规则反射体的回波声压2.6.1 纵波发射声场 a. 园盘波源辐射的纵波声场 ◇ 波源轴线上的声压分布（A） ◇ 波指向性和半扩散角（A） ◇ 波未扩散区与扩散区（A） ◇ 近场区在两种介质中的应用（A） b. 矩形波源辐射的纵波声场 ◇ 波源轴线上的声压分布（B） ◇ 波指向性和半扩散角（B） ◇ 波未扩散区与扩散区（B）

2.6.2 聚焦声源发射场

a. 液浸聚焦和接触式聚焦（B） b. 聚焦几何尺寸计算（B） 2.6.3 规则反射体的回波声压 a. 各类规则反射体的回波声压 ◇ 平底孔回波声压（A） ◇ 大平底面回波声压（A） ◇ 长横孔回波声压（A） ◇ 短横孔回波声压（C） ◇ 球孔回波声压（C） ◇ 圆柱曲底面回波声压（C）

b. 各类规则反射体回波声压之间的关系 ◇ 平底孔与大平底（A） ◇ 短横孔与大平底（C） ◇ 长横孔与大平底（C） 3. 超声仪器、探头和试块 3.1 超声波仪器 3.1.1 超声波检测仪概述 a. 仪器的作用（B） b. 仪器的分类（B）

3.1.2 A型脉冲反射式仪器的一般工作原理a. 仪器电路的方框图（C） b. 仪器主要组成部分的作用（C） c. 仪器主要功能键的作用及其调整（B） d. 仪器的维护（C） 3.1.3 数字智能检测仪

a. 数字智能检测仪的特点（C） b. 数字智能检测仪的发展（C） 3.2 超声波探头 3.2.1 晶片 a. 压电效应（B）

b. 压电材料的主要性能参数（B） 3.2.2 探头的种类和结构 a. 直探头（A） b. 斜探头（A） c. 双晶探头（A） d. 聚集探头（B） 3.3 试块 3.3.1 试块的作用

a. 确定检测系统的灵敏度（A）

b. 测试仪器和探头的性能（A） c. 评判缺陷在工件中的位置（A） d. 评判缺陷的当量大小（A） 3.3.2 试块的分类 a. 标准试块（A） b. 对比试块（A） 3.3.3 试块的要求和维护

a. 标准试块与对比试块的要求（B） b. 试块使用与维护（B） 3.4 仪器和探头的性能及其测试 3.4.1 仪器的性能及其测试 a. 垂直线性及其测试（A） b. 水平线性及其测试（A） c. 动态范围及其测试（B） d. 衰减器精度及其测试（B） 3.4.2 探头的性能及其测试 a. 斜探头的入射点（A） b. 斜探头的K值和折射角（A） c. 探头主声束偏离与双峰（B） 3.4.3 仪器和探头的综合性能及其测试a. 灵敏度（A）

b. 盲区与始脉冲宽度（A） c. 分辨率（A） d. 信噪比（A） 4. 超声检测方法 4.1 超声检测方法概述 4.1.1 按原理分类 a. 脉冲反射法（A） b. 穿透法（A） c. 共振法（C） 4.1.2 按波形分类 a. 纵波法（A） b. 横波法（A） c. 表面波法（A） d. 板波法（C） 4.1.3 按探头数目分类 a. 单探头法（B） b. 双探头法（B） c. 多探头法（B） 4.1.4 按探头接触方式分类

a. 直接接触法（B） b. 液浸法（B） 4.1.5 按显示方式分类 a. A型显示（A） b. B型显示（B） c. C型显示（B） d. D型显示（B） e. P型显示（B） 4.2 仪器与探头的选择 4.2.1 仪器的选择（A） 4.2.2 探头的选择 a. 探头形式（A） b. 探头频率（A） c. 晶片尺寸（A） d. 斜探头K值（A） 4.3 耦合与补偿 4.3.1 耦合剂

a. 常用耦合剂的要求（A） b. 影响声耦合的主要因素（A） 4.3.2 表面耦合损耗的测定和补偿 a. 耦合损耗的测定（B） b. 补偿方法（B） 4.4 超声仪的调节 4.4.1 扫描速度的调节 a. 纵波扫描速度的调节（A） b. 横波扫描速度的调节（A） 4.4.2 灵敏度的调节 a. 试块调整法（A） b. 工件底波调整法（A） 4.5 缺陷位置大小的测定 4.5.1 缺陷位置的测定 a. 直探头检测（A） b. 表面波检测（A） c. 横波平面检测（A） d. 横波曲面检测（A） 4.5.2 缺陷大小的测定 a. 当量法（A） b. 测长法（A） c. 底波高度法（A）

4.5.3 缺陷自身高度的测量（C）

4.6 影响缺陷定位、定量的主要因素 4.6.1 影响缺陷定位的主要因素 a. 仪器的影响（B） b. 探头的影响（B）

c. 工件几何形状和尺寸的影响（B） d. 操作人员的影响（B）

e. 缺陷形状、取向和性质的影响（B） 4.6.2 影响缺陷定量的主要因素 a. 仪器及探头性能的因素（B） b. 耦合与衰减的影响（B） c. 工件几何形状和尺寸的影响（B） d. 缺陷的影响（B） e. 操作人员的影响（B） 4.7 缺陷的性质分析（B） 4.8 非缺陷回波的判别（B） 5. 超声检测技术应用及标准 5.1 检测条件准备 5.1.1 文件

a. 检验规程编制 （A） b. 标准应用 （B） 5.1.2 检测设备

a. 检测设备及系统的构成 （A） b. 系统校准及检测中的校验（A） 5.1.3 被检件

a. 检测区域及表面备制 （A） b. 检测区域表面的目视检验 （B） 5.2 超声检测技术应用 5.2.1 焊缝超声波检测 a. 焊缝中的常见缺陷（A） b. 探测条件的选择（A） c. 扫描速度的调节（A） d. 距离—波幅曲线的绘制（A） e. 扫查方式（A）

f. 缺陷位置、大小的测定（A） 5.2.2 锻件检测

a. 锻件中的常见缺陷（A） b. 检测方法概述（A） c. 探测条件的选择（A） d. 扫描速度和灵敏度调节（A） e. 缺陷大小和位置的测定（A）

5.2.3 铸件检测

a. 件中的常见缺陷（B） b. 铸件检测的特点（B） c. 探测条件的选择（B）

d. 距离—波幅曲线的绘制和灵敏度的调节（B） 5.3.1 一般要求 a. 检测范围（A） b. 检测人员（A） c. 检测仪器探头性能（A） d. 检测一般方法（A） e. 缺陷的判别与测定（B） 5.2.4 板材检测 a. 板材常见缺陷（A） b. 检测方法（A）

c. 探头与扫查方式选择（A） d. 探测范围和灵敏度调整（A） e. 缺陷的判别与测定（A） 5.2.5 管材检测

a. 管材中的常见缺陷（B） b. 检测方法（B）

c. 探测参数和探测条件的选择（B） d. 灵敏度调整（B）

e. 缺陷大小和位置的测定（B） 5.3 JB4730标准：总则和超声检测

e. 校准（A）

f. 缺陷评定与报告（A） 5.3.2 超声检测 a. 原材料检测（A） b. 焊缝检测（A） c. 厚度测量（A） 5.4 其它检测技术

5.4.1 超声相控阵扫描检测技术（C）5.4.2 兰姆波检测技术（C） 5.4.3 TOFD技术（C） 5.4.4 缺陷识别与评定（B） 5.4.5 奥氏体不锈钢检测技术（C） 5.4.6 串列法检测技术（B）

第四章 核工业超声检测技术I级

1. 超声检测在核工业中的应用 1.1 核用原材料的超声检测 1.1.1 锻件的超声检测（B） 1.1.2 管道和管子的超声检测（C） 1.2 制造和安装过程中的超声检测

1.2.1 一级部件全焊透对接焊缝的超声检测（B） 1.2.2 二级部件全焊透对接焊缝的超声检测(B） 1.3 核燃料元件的超声检测 1.3.1 核元件类型和结构特点（C） 1.3.2 超声波检测技术（C） 1.3.3 记录和验收标准（C） 1.4 核设备在役检查中的超声检测 1.4.1 核设备/部件的超声检测 a. 承压设备主焊缝（A） b. 安全端异种金属焊缝（C） c. 管道对接焊缝（A） d. 角焊缝（C）

1.4.2 核用粗晶不锈钢材料的超声检测（C） a. 粗晶材料的声学特点 b. 检测技术 c. 缺陷的定位和定量 1.4.3 自动超声检测技术（C） a. 反应堆压力容器检查

b. 管道检查c. 多通道超声数据采集和分析系统 d. 电气控制系统

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e. 机械扫查装置 f. 探头

2. 核工业超声检测标准（EJ/T 1039-1996，EJ/T 1041-1996）

2.1 EJ/T 1039-1996标准 2.1.1 标准适用范围（B） 2.1.2 超声检测的一般要求（A） 2.1.3 缺陷信号的测定（A） 2.1.4 板材超声波检测（C） 2.1.5 锻件超声波检测（B） 2.1.6 全焊透焊缝（A） 2.2 EJ/T 1041-1996标准 2.2.1 标准适用范围 2.2.2 在役检查的概念 a. 在役检查的定义（A） b. 在役检查的范围（C）

2.2.3 核设备部件的分级原则（C） 2.2.4 在役检查的超声检测的要求 a. 记录标准（A） b. 缺陷的定位、定量（A） c. 缺陷的规范化处理（B） d. 受检部件的标识（C） e. 表面准备（B）

f. 检验文件和记录（B）

第五章 核工业超声检测技术II级

1. 超声检测在核工业中的应用 1.1 核用原材料的超声检测 1.1.1 锻件的超声检测（B） 1.1.2 管道和管子的超声检测（B） 1.2 制造和安装过程中的超声检测

1.2.1 一级部件全焊透对接焊缝的超声检测(A） 1.2.2 二级部件全焊透对接焊缝的超声检测(B） 1.2.3 三级部件全焊透对接焊缝的超声检测(B） 1.3 核燃料元件的超声检测 1.3.1 核元件类型和结构特点（C） 1.3.2 超声波检测技术（B） 1.3.3 记录和验收标准（C） 1.4 核设备在役检查中的超声检测 1.4.1 核设备/部件的超声检测 a. 承压设备主焊缝（A） b. 安全端异种金属焊缝（B） c. 管道对接焊缝（A） d. 角焊缝（B）

1.4.2 核用粗晶不锈钢材料的超声检测（B） a. 粗晶材料的声学特点 b. 检测技术 c. 缺陷的定位和定量 1.4.3 自动超声检测技术（C） a. 反应堆压力容器检查

f. 探头

2. 核工业超声检测标准（EJ/T 1039-1996，EJ/T 1041-1996）

2.1 EJ/T 1039-1996标准 2.1.1 标准适用范围（B） 2.1.2 超声检测的一般要求（A） 2.1.3 缺陷信号的测定（A） 2.1.4 检验报告（B） 2.1.5 铸件超声波检测（C） 2.1.6 板材超声波检测（C） 2.1.7 锻件超声波检测（B） 2.1.8 全焊透焊缝（A） 2.2 EJ/T 1041-1996标准 2.2.1 标准适用范围 2.2.2 在役检查的概念 a. 在役检查的定义（A） b. 在役检查的范围（B）

2.2.3 核设备部件的分级原则（B） 2.2.4 在役检查的超声检测的要求 a. 记录标准（A） b. 缺陷的定位、定量（A） c. 缺陷的规范化处理（B）

d. 一、二级部件的超声检测验收标准（A） e. 受检部件的标识（B）

b. 管道检查f. 表面准备（B） c. 多通道超声数据采集和分析系统 d. 电气控制系统 e. 机械扫查装置

g. 人员要求（B）

h. 设备和器材的证明文件（C） i. 检验文件、记录和报告（A）

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第六章 核工业超声检测技术III级

1. 超声检测在核工业中的应用 1.1 核用原材料的超声检测 1.1.1 锻件的超声检测（B） 1.1.2 管道和管子的超声检测（A） 1.1.3 棒材的超声检测（C） 1.2 制造和安装过程中的超声检测

1.2.1 一级部件全焊透对接焊缝的超声检测(A） 1.2.2 二级部件全焊透对接焊缝的超声检测(A） 1.2.3 三级部件全焊透对接焊缝的超声检测(A） 1.3 核燃料元件的超声检测 1.3.1 核元件类型和结构特点（C） 1.3.2 超声波检测技术（B） 1.3.3 记录和验收标准（C） 1.4 核设备在役检查中的超声检测 1.4.1 核设备/部件的超声检测 a. 承压设备主焊缝（A） b. 安全端异种金属焊缝（A） c. 管道对接焊缝（A） d. 角焊缝（B）

e. 反应堆压力容器主螺栓（B）

1.4.2 核用粗晶不锈钢材料的超声检测（B） a. 粗晶材料的声学特点 b. 检测技术 c. 缺陷的定位和定量 d. 缺陷的评定

1.4.3 自动超声检测技术（C） a. 反应堆压力容器检查

的超声检测等）

2. 核工业超声检测标准（EJ/T 1039-1996，EJ/T 1041-1996）

2.1 EJ/T 1039-1996标准 2.1.1 标准适用范围（B） 2.1.2 超声检测的一般要求（A） 2.1.3 缺陷信号的测定（A） 2.1.4 检验报告（B） 2.1.5 铸件超声波检测（C） 2.1.6 板材超声波检测（C） 2.1.7 锻件超声波检测（A） 2.1.8 管材超声波检测（B） 2.1.9 全焊透焊缝（A） 2.2 EJ/T 1041-1996标准 2.2.1 标准适用范围 2.2.2 在役检查的概念 a. 在役检查的定义（A） b. 在役检查的范围（B） c. 完整在役检查（C） d. 部分在役检查（C）

2.2.3 核设备部件的分级原则（A） 2.2.4 在役检查的超声检测的要求 a. 记录标准（A）

b. 缺陷的定位、定量和定性（A） c. 缺陷的规范化处理（A）

d. 一、二级部件的超声检测验收标准（A） e. 受检部件的标识（C）

b. 管道检查f. 表面准备（B） c. 多通道超声数据采集和分析系统 d. 电气控制系统 e. 机械扫查装置 f. 探头

g. 自动超声检测系统的应用（设备、管道焊缝

g. 人员要求（A）

h. 设备和器材的证明文件（B） i. 检验文件、记录和报告（B）

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第七章 超声检测技术I级操作考试大纲

超声检测I级人员实践操作考试，要求对板材和平板对接全焊透焊缝二种试件进行检测。采用JB4730标准。 1.检测工艺卡

能正确理解检测工艺卡的内容与要求。 2. 检测前准备 2.1 试件准备

核对试件标识并正确进行试件表面清理，达到可以实施检测的状态。 2.2 检测系统的准备

2.2.1能确认仪器、试块、探头的状况是否满足检测要求

a. 仪器：时基线调整 b. 探头：前沿、折射角测量 c. 系统：灵敏度调节

2.2.2能正确判断仪器工作状态，按规定校核仪

器状态 3. 检测操作 3.1 检测系统的调整

能根据不同的检测对象正确利用试块、选择探头和调整仪器、设定灵敏度。 3.2 检测的实施

正确握持探头，扫查方式正确，能满足扫查区域和扫查速度的要求，能检出被检工件内的“不连续显示”，并对“不连续显示”进行定位、定量测量。

3.3 检测后按要求正确地完成后处理 4.检测结果记录

正确、熟练地进行缺陷位置、大小、形状等参数的记录。

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第八章 超声检测技术II级操作考试大纲

超声检测II级人员实践操作考试，要求对锻件和平板对接全焊透焊缝二种试件进行检测。采用JB4730标准。 1. 检测工艺卡的编制

能按照检测标准或检测工艺规程编制检测工艺卡，要求内容完整、工艺过程合理且具有可操作性、格式规范、书面整洁。 2. 检测前准备 2.1 试件准备

核对试件标识并正确进行试件表面清理，达到可以实施检测的状态。 2.2 检测系统的准备

2.2.1能确认仪器、试块、探头的状况是否满足检测要求

a. 仪器：时基线调整，垂直线性和分辨力确认 b. 探头：前沿、折射角和双峰及角度偏差测量 c. 系统：灵敏度调节，绘制DAC曲线 2.2.2能正确判断仪器工作状态正常与否，并能按规定时间校核系统 3. 检测操作

3.1 检测系统的调整

能根据不同的检测对象正确选择试块、探头，校验系统工作状态，设定灵敏度，注意表面补偿。 3.2 检测的实施

扫查方式正确，能满足扫查区域和扫查速度的要求，能检出被检工件内的“不连续显示”，并对“不连续显示”进行定位、定量和曲线性质的初步判定。

3.3 检测后正确地进行后处理 4.检测结果记录

能正确、熟练地进行缺陷位置、大小、形状等参数的记录。 5.检测结果的评定

能根据验收标准进行检测结果的评定，并对材料或部件做出合格与否的判定。 6.检测报告

内容完整、结论正确、格式规范、书面整洁。

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第九章 超声检测技术III级操作考试大纲

超声检测III级人员实践操作考试，要求对锻件和平板对接全焊透焊缝二种试件进行检测。采用JB4730标准。 1.检测工艺规程的编制

能按照检测标准编制检测工艺规程，要求内容完整、工艺过程合理且具有可操作性、格式规范、书面整洁。 2. 检测前准备 2.1 试件准备

正确进行试件表面清理，达到可以实施检测的状态。

2.2 检测系统的准备

2.2.1能确认仪器、试块、探头的状况是否满足检测要求

a. 仪器：时基线调整，垂直线性和分辨力确认 b. 探头：前沿、折射角和双峰及角度偏差测量 c. 系统：灵敏度调节，绘制DAC曲线 d. 其它显示方式或数字设备的正确使用 2.2.2能正确判断仪器工作状态正常与否，并能调整仪器至最佳状态

3. 检测操作 3.1 检测系统的调整

能根据不同的检测对象正确选择试块、探头，校验系统工作状态，设定灵敏度，正确作表面补偿。 3.2 检测的实施

扫查方式正确，能满足扫查区域和扫查速度的要求，能检出被检工件内的“不连续显示”，并对“不连续显示”进行定位、定量和性质判断。 3.3 检测后正确地进行后处理 4.检测结果记录

能正确、熟练地进行缺陷位置、大小、形状等参数的记录。 5.检测结果的评定

能根据验收标准进行检测结果的评定，对缺陷的性质进行判断，并对材料或部件做出合格与否的正确判定。 6.检测报告

内容完整、结论正确、格式规范、书面整洁。

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第十章 超声综合技术能力III级考试大纲

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