无损检测公式总结
第一章 射线检测
1 各种形状焦点尺寸d :圆形和方形焦点:d= a ;椭圆形和长方形焦点:d=(a+b)/2
d的范围一般在0.5?5mm之间
2 放射性元素衰减定律:A=A0e- λ τ
A0 — 放射性物质的初始活度(Bq);A — 经过时间τ 以后放射性物质的活度(Bq);
e — 自然对数的底; λ — 衰变常数(s-1)。
3 除Bq以外,也常用Ci表示放射性活度,它们之间的换算关系为1Ci=3.7×1010Bq。
4 半衰期τ1/2 τ1/2=(ln2)/λ=0.693 /λ(s)
5 单波长射线的强度与透照厚度tA之间应遵循如下的指数衰减规律:I=I0e-μ t
式中 μ—射线的线性衰减系数(mm-1)
6 半价层tA1/2的数学表达式:tA1/2=(ln2)/μ=0.693/μ
7 射线照相的象质计灵敏度计算式:K=φ/tΑ×100%
K—以百分数表示的象质计灵敏度;tA—实际的射线透照厚度(mm);
Φ—底片上可以识别的最细金属线的直径(mm)。
8 黑度:强度为J0的可见光沿法向入射到照相底片上的某点,设透过底片的可见光强度为J,则该点的黑度为 D =lg (J0 / J) 式中的J / J0称为透光率
9 胶片的感光度S:S=1/HS HS --- 片基加灰雾黑度再加2.00黑度所需的曝光量(Gy)。
10胶片特性曲线的平均斜率Gm定义为:Gm=(D2—D1)/(lgH2—lgH1)=2.0/ (lgH2—lgH1)
式中D1--片基加灰雾黑度再加1.50的黑度;D2 --片基加灰雾黑度再加3.50的黑度;
H1--产生D1黑度所需的曝光量(Gy);H2--产生D2黑度所需的曝光量(Gy)。
11 讨论射线硬度对底片影像质量的影响
lgIt-lgI0 t= -0.434μ tA;ΔlgH= -0.434μΔtA ;
重要:ΔD=-0.434GμΔtA;ΔD为透照反差,“-”号表示底片黑度随透照厚度的增加而减小。
重要:ΔtA /tA=2.3ΔD/GμtA ΔtAmin即人能从底片上观察到的透照厚度的最小变化,称为该照相底片的绝对灵敏度,ΔtAmin/tA则为其相对灵敏度。
12 几何不清晰度:Ug=L2d /L1 d —焦点尺寸(mm);L2—胶片至工件上表面的距离(mm);L1—射线源到工件上表面的距离(mm)
13考虑射线照相几何因素的影响,式(1-15)应写为:
ΔtAmin /tA=0.023/Gμσ tA 式中的σ<1,称为几何修正系数。Ug越小,σ 就越大
14重要:考虑散射线对透照灵敏度的影响:ΔtAmin/tA=0.023(1+n)/GσμtA
n — 散射线比例,即胶片接受的散射线的强度与入射射线强度之比
超声波检测
1 声速C(m/s)、波长λ(m)和频率f(Hz)之间的关系:C=fλ
2 近场长度可近似表示为: N≈D2/4λ
D - 直探头压电晶片的直径(mm);N - 近场长度(mm);λ - 超声波波长(mm)。
3 零值指向角θ0:
声束边缘的声压为其轴线声压的10%的指向角可表示
4 反射和折射定律:
5 就有机玻璃/钢界面而言,第一临界角α LI ≈27°,第二临界角 α LII ≈57.5°
6 超声波在无限大界面垂直入射:
界面的声压反射率Rp和声压透射率Dp:
Rp=Pr/Pe=(Z2-Z1)/(Z2+Z1) ;Dp=Pd/Pe=2Z2 /(Z2+Z1)
声压往复透过率Ep的表达式为:Ep=4Z1Z2/(Z1+Z2)2
7 声阻抗为Z1的均匀介质中存在声阻抗为Z2的大面积薄层(公式不用记,但简化结论要知道) 垂直入射时声压反射率
d - 薄层界面的厚度(mm);
λ2 - 薄层界面内超声波的波长(mm)
1)当d为1/4λ2的奇数倍时,Rp取极大值;
2) 当d为1/2λ2的整数倍时,Rp取极小值。
3)焊缝中由裂纹形成的薄层界面而言,Z2<<Z1。在这一条件下如果d很小
8 声阻抗分别为Z1和Z3的两种介质之间存在声阻抗为Z2的大面积薄层
当Z2不很小且d为21λ2的整数倍时:声压往复透过率Ep=4Z3Z1/(Z3+Z1)2
d<<1/4λ2时:Ep≈4Z3Z1/(Z3+Z1)2
在这两种条件下,Ep与耦合介质的声学特性无关
9 平底孔反射波高的计算公式:
Hφ/H0=Pφ/P0=FFφ/(λ2x2) (2-17)
式中Hφ - 平底孔的反射波高度(%);H0 - 起始波高度(%)。
10 α为衰减系数,其计算公式为:α=1/x 20lg(p0/p)
x - 声程(mm);P0 - 起始声压(MPa);P - 声程x处的声压(MPa)
11 分贝(dB):n=10lg(I2/I1) n - 分贝(dB); I2/I1 - 声强比
12 用声压表示:n=20lg(P2/P1)
13在探伤仪垂直线性良好的前提下,式(2-20)可以改写为:
n=20lg(H2/H1) n>0表示增益,n<0表示衰减。
14 在1:1水平定位条件下,缺陷至斜探头入射点的水平距离l可直接从荧光屏时基线上读出,继而不难算出缺陷在检测平面下的埋藏深度h
直射法:h=l/K 一次反射法:h=2t-l/K t为母材厚度
15 记
第一节 工程概况 无损检测总结 第一章 概 述
简述无损检测工程概况,包括工程名称、建设地点和规模,工程开工、交工验收、工程交接 日期、工程交接情况等。
第二节 无损检测机构及业务
1. 简述无损检测组织机构、无损检测人员和投入的检测设施。
2. 根据建设单位委托和无损检测合同的规定,简述无损检测工作量。 第二章
第一节 无损检测依据 无损检测工作履行情况
简述无损检测采用的主要标准、规范。
第二节 无损检测工作情况
简述无损检测工作情况,底片质量,焊接一次合格率,复探率以及评片准确率。
第三节 无损检测发现问题及处理情况和建议
第四节 无损检测成果(附照片)
第三章 结束语
1.对焊口质量总体评价
2.无损检测工作经验和教训总结
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