实验一光纤传感器的位移特性实验

一、实验目的：了解光纤位移传感器的工作原理和性能，测量其静态特性实验数据。

二、基本原理：本实验采用的是传光型光纤，它由两束光纤混合后，组成Y型光纤，半园分布即双D分布，一束光纤端部与光源相接发射光束，另一束端部与光电转换器相接接收光束。两光束混合后的端部是工作端亦称探头，它与被测体相距X，由光源发出的光纤传到端部出射后再经被测体反射回来，另一束光纤接收光信号由光电转换器转换成电量，而光电转换器转换的电量大小与间距X有关，因此可用于测量位移。

三、器件与单元：主机箱、光纤传感器、光纤传感器实验模板、测微头、反射面。

四、实验步骤：

测微头组成和读数如图1。

测微头读数图

图1测位头组成与读数

测微头组成：测微头由不可动部分安装套、轴套和可动部分测杆、微分筒、微调钮组成。

测微头读数与使用：测微头的安装套便于在支架座上固定安装，轴套上的主尺有两排刻度线，标有数字的是整毫米刻线(1mm／格)，另一排是半毫米刻线(0.5mm／格)；微分筒前部圆周表面上刻有50等分的刻线(0.01mm／格)。

用手旋转微分筒或微调钮时，测杆就沿轴线方向进退。微分筒每转过1格，测杆沿轴方向移动微小位移0.01mm，这也叫测微头的分度值。

测微头的读数方法是先读轴套主尺上露出的刻度数值，注意半毫米刻线；再读与主尺横线对准微分筒上的数值、可以估读1／10分度，如图1甲读数为3.678mm，不是3.178mm；遇到微分筒边缘前端与主尺上某条刻线重合时，应看微分筒的示值是否过零，如图1乙已过零则读2.514mm；如图1丙未过零，则不应读为2mm，读数应为1.980mm。

测微头使用：测微头在实验中是用来产生位移并指示出位移量的工具。一般测微头在使用前，首先转动微分筒到10mm处(为了保留测杆轴向前、后位移的余量)，再将测微头轴套上的主尺横线面向自己安装到专用支架座上，移动测微头的安装套(测微头整体移动)使测杆与被测体连接并使被测体处于合适位置(视具体实验而定)时再拧紧支架座上的紧固螺钉。当转动测微头的微分筒时，被测体就会随测杆而位移。

1、根据图2示意安装光纤位移传感器和测微头，二束光纤分别插入实验模板上的光电座(其内部有发光管D和光电三极管T )中，其它接线按图2。

图2 光纤传感器位移实验接线图

2、检查接线无误后，合上主机箱电源开关。调节测微头，使光反射面与Ｙ型光纤头轻触；再调实验模板上的R_W、使主机箱中的电压表(显示选择开关打到20Ｖ档)显示为０Ｖ。

3、旋转测微头，被测体离开探头，每隔0.1mm读取电压表显示值，将数据填入表1，正、反行程共重复10次。实验完毕，关闭电源。

表1光纤位移传感器输出电压与位移数据

第二篇：实验一电容式传感器的位移特性实验

实验三十一电容式传感器的位移特性实验

一、实验目的

了解电容式传感器结构及其特点。

二、实验原理

利用平板电容和其它结构的关系式通过相应的结构和测量电路可以选择ε、S、d中三个参数中，保持两个参数不变，而只改变其中一个参数，则可以有测谷物干燥度（ε变）测微小位移（变d）和测量液位（变S）等多种电容传感器。变面积型电容传感器中，平板结构对极距特别敏感，测量精度受到影响，而圆柱形结构受极极板径向变化的影响很小，且理论上具有很好的线性关系，（但实际由于边缘效应的影响，会引起极板间的电场分布不均，导致非线性问题仍然存在，且灵敏度下降，但比变极距型好得多。）成为实际中最为常用的结构，其中线位移单组式的电容器C在忽略边缘效应时为：