集成门电路功能测试实验报告

姓名：肖思文   班级：物联1001    学号：20100810324

基本知识点：

1、逻辑值与电压值的关系。

2、常用逻辑门电路功能及其测试方法。

3、硬件电路基础实验箱的结构、基本功能和使用方法。

实验内容：

1、     基本门电路的逻辑功能测试

所测试的基本门电路的逻辑功能与预测实验结果相同。

2、逻辑门的转换

利用 74S00 与非门组成非门，2 输入与门,2 输入或门电路，画出实验电路图，并测试其逻辑功能，验证结果。

非门：

逻辑图：

实验结论：所测数据与理论数据相同，验证了非门逻辑。

与门：

逻辑图：

实验结论：所测数据与理论数据相同，验证了与门逻辑。

或门：

逻辑图：

实验结论：所测数据与理论数据相同，验证了或门逻辑。

3、门电路的基本应用

测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器的逻辑功能。

根据半加器的逻辑表达式可知，半加器的输出的和数 S 是输入 A、B（二进制数）的“异或”，而进位数 C 是 A、B 的相“与”，故半加器可用一个集成“异或”门和二个“与非”门组成，如图 1.3.3 所示。

⑴ 在实验箱上用“异或”门(74LS86)和“与非”门连接如图 1.3.3 所示逻辑电路。输入端A、 B接“逻

辑电平”开关，输出端 S、C接“电平显示”发光二极管。

⑵ 通过电平开关改变输入A、B的逻辑状态置位，观测输出端的逻辑状态，列表记录。

逻辑电路图：

实验结论：实验验证了半加器的逻辑功能。

实验总结：

由于这次实验相对于比较简单，做起来也比较顺手，但是在测量数据的时候也会出现一些小问题，这次实验让自己了解了非门，与门，或门的逻辑功能，也了解了半加器的逻辑功能，同时加深了自己对实验箱上面连线组成逻辑电路有了更加深的理解。

 

第二篇：门电路逻辑功能及测试

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贵大理学院物理系光信101班《数电》门电路实验报告 肖明进 第 6 页 共 6 页 （2） 与非门一个输入接连续脉冲，其余端什么状态时允许脉冲通过？什么状态时禁止

脉冲通过？

答：与非门接髙电平则其他信号可以通过，接低电平则输出恒为0，与非门的真值表是“有0出1，全1出0”。所以一个输入接时钟，就是用时钟控制与非门，当时钟脉冲为高电平时，允许信号通过，为低电平时关闭与非门。