实验一门电路逻辑功能及测试预习报告

预习报告

实验一 门电路逻辑功能及测试

一、根据数字IC的工作原理指出工作电源电压以及输入、输出“1”和“0”的逻辑电平值。

二、查找所用IC数据手册，列出实际的工作电源电压、以及输入、输出“1”和“0”的逻辑电平值。

三、Multisim仿真及结果

四、实验内容、测试电路及测试表格

一．答：

1).TTL电路电源电压范围：TTL电路的工作电源电压范围很窄。S，LS，F系列为5V±5%；AS，ALS系列为5V±10%。

COMS电路电源电压范围：COMS电路的工作电源电压范围为3～18V，74HC系列为2～6V。

2). TTL集成电路的电源电压允许变化范围比较窄，一般在4.5～5.5V之间，因此必须使用+5V稳压电源；CM0S集成电路的工作电源电压范围比较宽，有较大的选择余地。一般而言，工作电压都取5V。故输入逻辑电平值为5V，输出为“1“的逻辑电平值为5V，输出为”0”的逻辑电平值为0V.

二．答：

查询数据手册，可知：74LS00、74LS20、74LS86、74LS04的电源电压范围为 4.75 V- 5.25V。故实际的工作电源电压为4.75-5.25V。输入“1”的逻辑电平为4.75-5.25V。输入“0”的逻辑电平为0V-4.75V。

四．答：

实验内容：

实验前检查实验箱电源是否正常。然后选择实验用的集成电路，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc 及地线不能接错(Vcc=+5v，地线实验箱上备有)。实验中改动接线须先断开电源，接好后再通电实验。

1、测试门电路逻辑功能

⑴ 选用双四输入与非门74LS20 一只，插入面包板（注意集成电路应摆正放平），按图1.1接线，输入端接S1～S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口)，输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1～D8 中的任意一个。

⑵ 将逻辑电平开关按表1.1 状态转换，测出输出逻辑状态值及电压值填表。

表 1.1

2、逻辑电路的逻辑关系

⑴ 用 74LS00 双输入四与非门电路，按图1.2、图1.3 接线，将输入输出逻辑关系分别填入表1.2，表1.3 中。

⑵ 写出两个电路的逻辑表达式。

表 1.2 表 1.3

3、利用与非门控制输出

用一片74LS00 按图1.4 接线。S分别接高、低电平开关，用示波器观察S对输出脉冲的控制作用。

4、用与非门组成其它门电路并测试验证

⑴ 组成或非门：

用一片二输入端四与非门组成或非门，画出电路图，测试并填表1.4。

⑵ 组成异或门：

① 将异或门表达式转化为与非门表达式； ②画出逻辑电路图；

③ 测试并填表1.5。

表 1.4 表 1.5

5、异或门逻辑功能测试

⑴ 选二输入四异或门电路74LS86，按

图1.5 接线，输入端1、2、4、5 接电

平开关输出插口，输出端A、B、Y 接

电平显示发光二极管。

⑵ 将电平开关按表1.6 的状态转换，

将结果填入表中。

*6、逻辑门传输延迟时间的观察

用六反相器74LS04逻表 1.6

辑电路按图1.6 接线，输入200Hz 连续脉冲（实验箱脉冲源），将输入脉冲和输出脉冲分别接入双踪示波器Y1、Y2 轴，观察输入、输出相位差。

第二篇：实验一、门电路逻辑功能及测试

实验一门电路逻辑功能及测试

一、实验目的

1. 熟悉门电路逻辑功能并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。

2. 熟悉RXB-1B数字电路实验箱及V252示波器使用方法。

二、实验仪器及材料

1. V252双踪示波器

2. RXB-1B数字电路实验箱

3. 万用表

4. 器件

74LS00 四2输入与非门 1片

74LS86 四2输入异或门 1片

三、实验任务

任务一：异或门逻辑功能测试

集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路，逻辑关系式为1Y=1A⊕1B，2Y=2A⊕

2B， 3Y=3A⊕3B，4Y=4A⊕4B，其外引线排列图如图1.3.1所示。它的1、2、4、5、9、10、12、13号引脚为输入端1A、1B、2A、2B、3A、3B、4A、4B，3、6、8、11号引脚为输出端1Y、2Y、3Y、4Y，7号引脚为地，14号引脚为电源+5V。

（1）将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B数字电路实验箱的任意14引脚的IC空插座中。

（2）按图1.3.2接线测试其逻辑功能。芯片74LS86的输入端1、2、4、5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔，输出端3、6、8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。14号引脚+5V接至数字电路实验箱的+5V电源的“+5V”插孔，7号引脚接至数字电路实验箱的+5V电源的“⊥”插孔。