深 圳 大 学 实 验 报 告
课程名称: 数字逻辑与数字系统
实验项目名称: 门电路逻辑功能及测试
学院: 计算机与软件学院
专业:
指导教师:
报告人: 学号: 班级:
实验时间:
实验报告提交时间:
教务部制
深圳大学学生实验报告用纸
注:1、报告内的项目或内容设置,可根据实际情况加以调整和补充。
2、教师批改学生实验报告时间应在学生提交实验报告时间后10日内。
实验一 集成门电路逻辑功能测试
一、实验目的
1. 验证常用集成门电路的逻辑功能;
2. 熟悉各种门电路的逻辑符号;
3. 熟悉TTL集成电路的特点,使用规则和使用方法。
二、实验设备及器件
1. 数字电路实验箱
2. 万用表
3. 74LS00四2输入与非门 1片 74LS86四2输入异或门 1片
74LS11三3输入与门 1片 74LS32四2输入或门 1片
74LS04反相器 1片
三、实验原理
集成逻辑门电路是最简单,最基本的数字集成元件,目前已有种类齐全集成门电路。TTL集成电路由于工作速度高,输出幅度大,种类多,不宜损坏等特点而得到广泛使用,特别对学生进行实验论证,选用TTL电路较合适,因此这里使用了74LS系列的TTL成路,它的电源电压为5V+10%,逻辑高电平“1”时>2.4V,低电平“0”时<0.4V。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式,其管脚的识别方法为:将集成块的正面(印有集成电路型号标记面)对着使用者,集成电路上的标识凹口左,左下角第一脚为1脚,按逆时针方向顺序排布其管脚。
四、实验内容
㈠ 根据接线图连接,测试各门电路逻辑功能
1. 利用Multisim画出以74LS11为测试器件的与门逻辑功能仿真图如下
按表1—1要求用开关改变输入端A,B,C的状态,借助指示灯观测各相应输出端F的状态,当电平指示灯亮时记为1,灭时记为0,把测试结果填入表1—1中。
2. 利用Multisim画出以74LS32为测试器件的或门逻辑功能仿真图如下
按表1—2要求用开关改变输入端A,B的状态,借助指示灯观测各相应输出端F的状态,把测试结果填入表1—2中。
3. 利用Multisim画出以74LS04为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下
按表1—3要求用开关改变电平开关的状态,借助指示灯观测各相应输出端F的状态,把测试结果填入表1—3中。
表1—3 74LS04逻辑功能表
㈡ 根据管脚功能图连接,测试各门电路逻辑功能
1.74LS00四二输入与非门管脚功能如下图所示,用其中一个门测试其逻辑功能。
按表1—4要求用开关改变输入端的状态,借助指示灯观测各相应输出端的状态,把测试结果填入表1—4中。
表1—4 74LS00逻辑功能表
2.74LS86四二输入异或门管脚功能如下图所示,用其中一个门测试其逻辑功能。
按表1—5要求用开关改变输入端的状态,借助指示灯观测各相应输出端的状态,把测试结果填入表1—5中。
表1—5 74LS86逻辑功能表
五、实验总结
1.确保集成块完好,否则会耽搁实验进行,浪费时间。在这次实验中,刚开始由于没有检查集成块,而一直在检查电路,但实验箱上的灯始终不亮,换了集成块后,电路立马成功导通,耽搁了实验的进程。
2.实验前应检查集成块是否插反,一旦大意,必然造成损失,烧坏集成块。
3.实验时要将电源电压接入+5V,过低电压导致实验测度不准,过高电压会烧毁仪器。
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